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電気試験・電気加工設備

No.6-037 分光スペクトル解析システム(近赤外)

No.6-037 分光スペクトル解析システム(近赤外)
機器の概要 波長毎の2次元画像を撮影するハイパースペクトルカメラ。近赤外域の微小な色の違いを、スペクトルで捉えることが可能。
※可視域は「分光スペクトル解析システム(可視)」をご参照ください。
備品の用途 異物検査、色ムラの評価、樹脂・紛体の分類、水分の可視化、光学フィルタ検討等
仕様 解像度:400×320、波長範囲:900nm-1,700nm、分解能:10nm
データビット数:12bit、撮影速度:4.0秒(12.8万画素、標準設定時)
機器サイズ:H154.5mm×W140.2mm×L328mmm ※カメラ単体、突起部含まず
付属照明:ハロゲンライト
メーカー名 エバ・ジャパン株式会社
型式 SIS-I
購入年度 R3年度
担当 技術交流企画室
機器使用料(消費税込) 料金表をご覧ください。
設備写真
参考サイト
お問い合わせ先 設備・機器利用に関するお問い合わせ」をご参照下さい。